KDVLF-TD 34kV/45kV超低频介质损耗测试仪是一种用于评估中高压电缆绝缘性能的专业检测设备。其核心原理是基于超低频（VLF，通常为0.1Hz、0.05Hz或0.01Hz）正弦电压对电缆绝缘施加电场，通过测量绝缘介质在电场作用下的能量损耗（即介质损耗因数tanδ），来判断绝缘材料的老化、受潮、局部缺陷等状态。
与传统工频耐压测试相比，超低频测试具有电压低、能量小、对绝缘无累积损伤等优点，尤其适用于现场检测和绝缘状态评估。KDVLF-TD系列测试仪集成了耐压测试、介质损耗测量、直流泄漏电流测试、护套检测等多种功能于一体，是一款多功能、智能化的电缆综合测试系统。
- 适用于交联聚乙烯（XLPE）、聚乙烯（PE）、纸绝缘电缆等各类中压电缆。
- 可检测绝缘中的水树、电树、局部放电等早期缺陷。
- 评估电缆绝缘的整体老化程度，为维修、更换提供依据。
- 在电缆安装完成后，进行超低频耐压试验，验证其绝缘强度是否符合运行要求。
- 可替代传统的直流耐压试验，避免直流电压对聚乙烯类绝缘的积累性损害。
- 定期对在运电缆进行绝缘检测，及时发现绝缘劣化趋势。
- 适用于发电厂、变电站、工矿企业、城市电网等各类电力用户。
- 支持护套耐压测试与故障精确定位，最高电压可达10kV。
- 可用于检测电缆外护套破损、进水等问题。
- 用于电缆材料研究、绝缘结构优化、新产品开发等领域的性能测试。
KDVLF-TD 34kV/45kV超低频介质损耗测试仪在设计上兼顾了高性能、高安全性、智能化与便携性：
- 支持正弦波、直流电压、矩形波（梯形波）多种输出模式。
- 正弦波最高输出：34kV峰值（24kV RMS）或45kV峰值（31.8kV RMS）。
- 直流电压范围：±1kV至±34kV/±45kV。
- 介质损耗因数测量范围：1×10⁻⁴至9999.9×10⁻⁴。
- 分辨率达1×10⁻⁵，精度为1×10⁻⁴。
- 自动在0.5U₀、1.0U₀、1.5U₀三个阶段进行测量，全面评估绝缘电压特性。
- 系统可根据电缆电容自动匹配最佳测试频率（0.1Hz、0.05Hz、0.01Hz）。
- 内置过流保护，避免因负载过大导致的设备损坏。
- 符合CE认证、低电压指令（2014/35/EC）与电磁兼容指令（2014/30/EC）。
- 具备急停按钮、高压输出锁、接地检测、电压击穿自动保护等多重安全机制。
- 操作需两人协作，第二人负责应急控制，符合高压作业安全规范。
- 配备彩色液晶屏，支持中、英、俄、西等多语言界面。
- 测试过程全自动，结果自动保存至内部存储器。
- 可通过U盘导出数据，配套专业软件生成标准化测试报告（含数据、曲线、评级与建议）。
- 整机集成于防护箱内（Peli Case 1430），重量仅22kg，便于现场携带。
- 工作温度范围：-10℃至+50℃，适用于各类野外与室内环境。
- 系统不仅输出介质损耗值，还提供**绝缘电阻、电容、损耗偏差、等级评定及检修建议。
- 支持三相电缆数据对比分析，便于全面评估线路状态。
